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粒度是指顆粒的大小。通常球體顆粒的粒度用直徑表示，稱為“粒徑”，非球形顆粒采用“等效粒徑”表示它的粒度。當被測顆粒的某種物理特性或物理行為與某一直徑的同質球體（或組合）最相近時，就把該球體的直徑（或組合）作為被測顆粒的等效粒徑（或粒度分布）。粒度分布是指用特定的儀器和方法反映出粉體樣品中不同粒徑顆粒占顆粒總量的百分數。粒度分布有區間分布和累計分布兩種形式。區間分布又稱為微分分布或頻率分布，它表示一系列粒徑區間中顆粒的百分含量。累計分布也叫積分分布，它表示小于或大于某粒徑顆粒的百分含量。
依據顆粒大小可進行顆粒分級：1-100nm納米顆粒；0.1-1um亞微米顆粒；1-100um微粒、微粉；100-1000um細粒、細粉；大于1 mm粗粒。微小顆粒態物質在日常生活和工業生產中有著很廣泛的應用，粒徑的大小和分布情況直接關系到工業流程，產品質量以及能源消耗和生產過程的安全性。對于納米材料而言，粒度以及粒度分布已經成為納米材料表征的重要指標之一。因此，準確方便地測量微小顆粒的粒徑并得到粒徑分布函數是非常重要的。粒度測試的基本方法有激光法、沉降法、篩分法、顯微鏡法、超聲粒度分析、X射線小角散射法、顆粒圖像法和庫爾特電阻法等。現有的粒度測量手段給出的粒徑基本上都是等效粒徑，因此除了球形顆粒以外，測試結果同儀器原理有關，或者說同“等效”所參照的物理參數或物理行為有關。
粒度檢測標準
GB/T 19627-2005 粒度分析 光子相關光譜法
GB/T 19077.1-2008 粒度分析 激光衍射法
GB/T 13220-1991 細粉末粒度分布的測定 聲波篩分法
GB/T 13221-2004 納米粉末粒度分布的測定 X射線小角散射法
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