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低溫測試

低溫測試

檢測目的:是用來確定產(chan)品(pin)在低溫氣候(hou)環境條件下儲存、運輸、使用的(de)(de)適應性(xing)的(de)(de)方法

檢測范圍:塑(su)料,橡膠,電子(zi)元器(qi)件

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項目介紹

低溫測試目的是(shi)檢驗(yan)試件(jian)(jian)(jian)(jian)能(neng)否在長期的低溫(wen)(wen)環境中儲藏、操縱控(kong)制,是(shi)確定軍(jun)民用(yong)設(she)備(bei)在低溫(wen)(wen)條件(jian)(jian)(jian)(jian)下儲存(cun)(cun)和工(gong)作(zuo)的適應性及耐久性。低溫(wen)(wen)下材料(liao)物(wu)理(li)化學性能(neng)。標準中對于試驗(yan)前(qian)處理(li)、試驗(yan)初始檢測(ce)(ce)、樣品(pin)安(an)裝、中間檢測(ce)(ce)、試驗(yan)后處理(li)、升溫(wen)(wen)速度(du)、溫(wen)(wen)度(du)柜負載條件(jian)(jian)(jian)(jian)、被測(ce)(ce)物(wu)與(yu)溫(wen)(wen)度(du)柜體積比(bi)等(deng)(deng)均有規范要求(qiu)。主要用(yong)于科研研究(jiu)、醫遼(liao)用(yong)品(pin)的保存(cun)(cun)、生(sheng)物(wu)制品(pin)、遠洋制品(pin)、電子元(yuan)件(jian)(jian)(jian)(jian)、化工(gong)材料(liao)等(deng)(deng)特殊材料(liao)的低溫(wen)(wen)實驗(yan)及儲存(cun)(cun)。低溫(wen)(wen)條件(jian)(jian)(jian)(jian)下試件(jian)(jian)(jian)(jian)的失效模(mo)式:產(chan)品(pin)所使用(yong)零(ling)件(jian)(jian)(jian)(jian)、材料(liao)在低溫(wen)(wen)時可能(neng)發生(sheng)龜裂、脆化、可動部(bu)卡死(si)、特性改變(bian)等(deng)(deng)現象。

低溫環境對設(she)備的主要影響有(you):

a. 使材料發硬變脆;

b. 潤(run)滑(hua)劑粘度增加,流動能力降低(di),潤(run)滑(hua)作用減小; 

c. 電子(zi)元器(qi)件性(xing)能(neng)發生(sheng)變化(hua); 

d. 水冷凝(ning)結(jie)冰; 

e. 密封件失效; 

f. 材(cai)料收(shou)縮造成機(ji)械(xie)結構變化。 

隱石檢(jian)測(ce)(ce)(ce)擁有一批在(zai)業(ye)(ye)(ye)內取(qu)得顯著(zhu)成就的(de)專(zhuan)(zhuan)(zhuan)業(ye)(ye)(ye)技術人員(yuan),在(zai)行業(ye)(ye)(ye)內有著(zhu)豐富的(de)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)經驗。秉(bing)承著(zhu)專(zhuan)(zhuan)(zhuan)注、專(zhuan)(zhuan)(zhuan)業(ye)(ye)(ye)、高(gao)效(xiao)(xiao)、想(xiang)客戶所(suo)想(xiang)的(de)理念,公(gong)司(si)積極增加(jia)項目(mu)和完善更先進的(de)測(ce)(ce)(ce)試儀器設備(bei),保障每一個檢(jian)測(ce)(ce)(ce),分析(xi)(xi),研發(fa)任務優質(zhi)高(gao)效(xiao)(xiao)的(de)完成。同時通過(guo)專(zhuan)(zhuan)(zhuan)業(ye)(ye)(ye)所(suo)長,為全球(qiu)數萬(wan)家優質(zhi)客戶提供(gong)最(zui)及時的(de)行業(ye)(ye)(ye)技術標準信息(xi),和更高(gao)精尖的(de)分析(xi)(xi)檢(jian)測(ce)(ce)(ce)解決方案。

  隱石檢測分別成立了閥門實驗室腐蝕實驗室金相實驗室力學實驗室無損實驗室耐候老化實驗室。從事常壓儲罐檢測鍋爐能效檢測金屬腐蝕檢測應力應變檢測無損探傷檢測機械設備檢測金相分析石墨烯納米材料檢測水質檢測油品檢測涉及的服務范圍已廣泛覆蓋到鋼鐵材料,有色金屬材料,石油化工設備,通用機械設備,冶金礦石,建筑工程材料、航空航天材料,高鐵船舶材料,汽車用零部件、非金屬材料,電子電工產品等各個領域,并獲得了CMA和CNAS;雙重認可。


檢測標準

測(ce)試項(xiang)目(mu)

測試標準

周期

樣品(pin)要求

備注

低溫(wen)測試              

GB/T 2423.1-2008

實際+2

只測:溫度范圍:-40℃~+5℃
尺寸:1×1×1m


需明確溫度范圍                             


IEC 60068-2-1-2007


檢測服務流程

流程副本.jpg

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