原子力顯微鏡(AFM)通過一根小小的(de)探針來間接地(di)感(gan)知(zhi)物體表面結構(gou),得到樣品表面的(de)三(san)(san)維(wei)相(xiang)貌(mao)圖(tu)(tu)象(xiang),并可(ke)對三(san)(san)維(wei)形貌(mao)圖(tu)(tu)象(xiang)進行(xing)粗糙度計算、厚(hou)度、步(bu)寬(kuan)、方(fang)框(kuang)圖(tu)(tu)或顆(ke)粒度分(fen)析。
AFM廣泛應(ying)用于材料科學中,是(shi)一種非(fei)常(chang)重要(yao)的(de)表(biao)面(mian)表(biao)征技(ji)術。除了進(jin)行形(xing)貌觀察,AFM還可以(yi)用(yong)來測量(liang)物質(zhi)和材料表面原子間的作(zuo)用(yong)力、表面彈性、塑性、硬度、粘著(zhu)力、摩擦力等(deng)性質(zhi)。
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